高濃度納米粒度及zeta電位分析儀將納米粒度分析和 Zeta 電位分析功能集成于一體，一次測量即可同時獲得納米顆粒的粒度分布和 Zeta 電位信息。這種多功能一體化的設(shè)計不僅方便了操作，減少了樣品用量和測量時間，還能夠了解納米材料的特性。通過對比粒度和電位信息，可以深入研究納米顆粒的表面性質(zhì)、分散穩(wěn)定性以及與其他物質(zhì)的相互作用機制等，為納米材料的優(yōu)化設(shè)計和應(yīng)用提供更豐富的依據(jù)。
 

　　由于其能夠準(zhǔn)確測量高濃度納米體系，并且具備多種分析功能，該儀器在眾多領(lǐng)域都有廣泛的應(yīng)用。在納米材料研發(fā)領(lǐng)域，可用于研究納米顆粒的合成、生長過程以及表面修飾對粒度和電位的影響；在生物醫(yī)藥領(lǐng)域，可用于分析納米藥物載體的粒度和表面電荷特性，評估其藥物載載能力和生物相容性；在化工、能源等領(lǐng)域，對于納米催化劑、納米復(fù)合材料等的性能研究和質(zhì)量控制也具有重要價值。
 

　　高濃度納米粒度及zeta電位分析儀可適用于高濃度體系：
 

　　1.突破傳統(tǒng)限制
 

　　-傳統(tǒng)的納米粒度和 Zeta 電位分析儀器在高濃度樣品測量時往往面臨諸多問題，如多重散射影響大、顆粒團(tuán)聚導(dǎo)致測量結(jié)果失真等。而高濃度納米粒度及zeta電位分析儀專門針對高濃度體系設(shè)計，能夠有效克服這些困難，實現(xiàn)對高濃度納米懸浮液的準(zhǔn)確測量。這使得研究人員可以直接對實際應(yīng)用中的高濃度納米材料體系進(jìn)行表征，無需對樣品進(jìn)行過度稀釋，更貼近實際工況，提高了測量結(jié)果的實用性和可靠性。
 

　　2.提高測量效率
 

　　-能夠直接測量高濃度樣品，大大減少了樣品制備的時間和成本。避免了因稀釋樣品可能引入的誤差和對樣品體系的改變，同時也節(jié)省了大量用于稀釋樣品的溶劑和時間。對于大規(guī)模的樣品篩選和質(zhì)量控制工作，高濃度測量能力使得分析過程更加快捷，提高了工作效率。