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納米粒度儀及電位分析儀

APS-100高濃度納米粒度儀 Zeta-APS電位分析儀 ZetaZF400-電位分析儀 ZetaZA500-電位分析儀原液在線檢測(cè)分析儀 CHDF3000高分辨納米粒度儀 CHDF4000高分辨納米粒度儀納米粒度儀分析儀

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AREPA型原液zeta電位分析儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號(hào)：AREPA型

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AREPA原液在線納米粒度儀$n在線粒度測(cè)量，工業(yè)加工狀態(tài)，不必稀釋樣品經(jīng)硬件設(shè)計(jì)可全（24 hours/7 days）候運(yùn)作，無(wú)需移動(dòng)部件實(shí)時(shí)控制的快速測(cè)量
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CHDF4000型高分辨率納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-03-19

型號(hào)：CHDF4000型

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高分辨率納米粒度儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析；
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CHDF4000型CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀

更新時(shí)間：2020-03-26

型號(hào)：CHDF4000型

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CHDF4000納米粒度儀及成分分析儀 CHDF4000是基于光散原理的儀器，使用新的技術(shù)對(duì)高分辨率的粒度分布（PSD）進(jìn)行測(cè)量，包括高粒子檢測(cè)靈敏度、動(dòng)態(tài)范圍、納米粒子的優(yōu)化分析； CHDF4000可提供完整范圍5納米至NM3微米，真實(shí)的PSD數(shù)據(jù)；通過(guò)粒子分離真正的PSD數(shù)據(jù)，關(guān)于粒子大小分布的形狀不需要假設(shè)；自動(dòng)化操作，通過(guò)一個(gè)人性化界面即可完成全部操作
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APS100納米粒度儀

更新時(shí)間：2020-11-25

型號(hào)：

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APS100納米粒度儀$n美國(guó)MAS公司成立至今有30余年歷史，專注于超聲電聲法原理顆粒度檢測(cè)、 Zeta電位分析儀的研發(fā)生產(chǎn)。超聲法原理測(cè)試樣品的顆粒分布，是采用聲波發(fā)生器發(fā)出一定頻率和強(qiáng)度的超聲波在樣品中傳播，由于不同大小粒徑對(duì)聲波的吸收、散射作用不同，導(dǎo)致聲波衰減程度不同。根據(jù)顆粒大小和聲波衰減之間的函數(shù)關(guān)系，得到顆粒的粒度分布。
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AREPA 在線檢測(cè)AREPA 在線檢測(cè)納米分析儀

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AREPA 在線檢測(cè)納米分析儀這款新型的聲波傳感器粒徑測(cè)量可用在許多工業(yè)生產(chǎn); 如加工管道、化學(xué)反應(yīng)器、瓷磚印刷設(shè)備、半導(dǎo)體 CMP 拋光、石油生產(chǎn)/加工、藥品輸送系統(tǒng)等，同時(shí)具有顯著的經(jīng)濟(jì)效益。
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MAS-APS-100超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀

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型號(hào)：MAS-APS-100

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胤煌-超聲電聲法高濃度納米粒度及電位分析儀可測(cè)量水溶液、非水溶液分散系，分散系濃度范圍從0.1% ~60%。非常輕松就可測(cè)量1nm到50um的樣品顆粒；
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CHDF-4000胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測(cè)

更新時(shí)間：2023-03-24

型號(hào)：CHDF-4000

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胤煌-納米粒度儀-高分辨率檢測(cè)具有出色的分離技術(shù)，使得顆粒能夠自小到大排列進(jìn) 入檢測(cè) 器 , 從而達(dá) 到對(duì) 不同顆粒進(jìn)行 “ 計(jì) 數(shù) “ 的目的，超高的尺寸分分辨率有助于操作者更加敏銳的發(fā) 現(xiàn) 細(xì) 微粒度分布的變化。
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zeta-APS原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀

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型號(hào)：zeta-APS

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原液超聲電聲法粒度及Zeta電位分析儀 1)測(cè)量樣品不需要稀釋或樣品準(zhǔn)備，從而消除了操作失誤和數(shù)據(jù)的不確定性，同時(shí)節(jié)省了時(shí)間； 2)物有所值的諧振硬件設(shè)計(jì)； 3)寬粒徑測(cè)量范圍：從5nm到1000um； 4)自動(dòng)電位和容積測(cè)量用于簡(jiǎn)單快速的等電位（IEP）測(cè)定、表面活性劑的吸附效果和許多其他動(dòng)態(tài)測(cè)定； 5)由于機(jī)載樣品混合和/或測(cè)量時(shí)的泵送能力，沒(méi)有粒子沉降的不利影響； 6)Zet
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